24.11.2020
Состоялось 49 заседание СПК в наноиндустрии
Состоялось 49 заседание СПК в наноиндустрии

В середине ноября состоялось очередное (сорок девятое!) заседание СПК в наноиндустрии. По итогам заседания одобрены результаты профессиональных экзаменов, проведенных в ЦОК «Завод КП» и «Наносертифика». 60 специалистов получили свидетельства о квалификации в сфере нанотехнологий, а 8 – заключения о прохождении профессионального экзамена. На сегодняшний день в сфере наноиндустрии проведено 1190 оценок квалификации!

Советом также рассмотрены результаты студенческих профессиональных экзаменов, проведенных в рамках пилотного проекта «Вход в профессию». 80 студентов получат сертификаты участника проекта. С 2019 года уже 744 студента попробовали свои силы в прохождении профессиональных экзаменов по адаптированным оценочным средствам!

Прибавление и в когорте экспертов! На право участия в работе экспертной комиссии ЦОК в качестве технического эксперта аттестовано 13 специалистов, 3 специалиста – в качестве эксперта по оценке.

Особо хочется отметить решение, принятое в целях сохранения доступности процедур независимой оценки квалификации в условиях распространения новой коронавирусной инфекции (COVID-19) и обеспечения санитарно-эпидемиологического благополучия населения на территории Российской Федерации. Срок полномочий экспертов экспертных комиссий ЦОК наноиндустрии (технических экспертов и экспертов по оценке), аттестованных Советом в период 2016-2018 годов, и соответствующих удостоверений экспертов продлен с 3 до 5 лет!

Более подробная информация в протоколе заседания https://spknano.ru/materialy-zasedaniy-soveta/

Другие новости
Попробуйте сейчас!
Пройдите профессиональный пробный экзамен. Вы сможете бесплатно оценить свои силы, а система укажет вам на слабые места, если они есть.
Пробный экзамен
Связаться с нами
close
Вы также можете связаться с нами по телефону +7 499 553-04-60
Как к вам обращаться:
Ваш телефон:
Сообщение:
Введите слово на картинке:
Нажимая на кнопку «Отправить», я даю
согласие на обработку персональных данных.